ဓာတုနည်းပညာသုတေသနဗဟိုဌာနမှ အောက်ဖော်ပြပါ ဓာတ်ခွဲဝန်ဆောင်မှုများကို ဆောင်ရွက်ပေးလျက်ရှိပါသည်။ ဝန်ဆောင်မှုများရယူရန်အတွက် CTRC Service Form ကို download ရယူဖြည့်စွက်၍ လျှောက်ထား ဆောင်ရွက်နိုင်ပါသည်။
ပစ္စည်းအမျိုးအစား |
သတ်မှတ်ချက် |
တိုင်းတာသည့်စက် |
ဈေးနှုန်း(ကျပ်) |
ဆေးဖက်ဝင်အပင်များ၏အစိတ်အပိုင်းများ |
အင်တီအောက်ဆီးဒင့်ဂုဏ်သတ္တိတိုင်းတာခြင်း |
Biochorme, UV-1800 |
|
ဆေးဖက်ဝင်အပင်များ၏အစိတ်အပိုင်းများ |
ဖီနောနှင့်ဖလေဗိုနွိုက်ပါဝင်မှုတို့ကိုတိုင်းတာခြင်း |
Biochorme, UV-1800 |
|
ဆေးဖက်ဝင်အပင်များ၏အစိတ်အပိုင်းများ |
ပါဝင်သောဒြပ်ပေါင်းများအားရှေးဦးစမ်းသပ်များ ဆောင်ရွက်ပေးခြင်း |
Test tube method |
|
အခဲများ |
စိုထိုင်းဆအားတိုင်းတာပေးခြင်း |
Moisture Analyzer |
|
အခဲ/အရည် |
နိုက်ထရိတ်ပါဝင်မှုအားတိုင်းတာခြင်း |
Nitrate Test Kit |
|
အခဲ/အရည် |
ဖော့စဖရိတ်ပါဝင်မှုအားတိုင်းတာခြင်း |
Phosphate Test Kit |
|
အရည်/ဆေးပျစ်ရည်/အဆီ |
စေးပျစ်နှုန်းအားတိုင်းတာခြင်း |
Viscometer or U-tube/ASTM 2857 |
|
အရည် |
စုစုပေါင်းအစိုင်အခဲပျော်ဝင်မှုအားတိုင်းတာခြင်း |
Refratometer |
|
အရည် |
သိပ်သည်းဆအားတိုင်းတာခြင်း |
Density bottle |
|
အခဲ/ပလတ်စတစ်နှင့်ဆက်စပ်ပစ္စည်းများ |
အရည်ပျော်မှတ်အားတိုင်းတာခြင်း |
Melting point apparatus |
|
အထပ်သား/ကွန်ပိုစစ်ပစ္စည်းများ/စက္ကူနှင့် ဖလင် |
အထူတိုင်းတာခြင်း |
CHY-CB PARAM thickness tester/ASTM- D374 |
|
ရာဘာ/စက္ကူ/ ကွန်ပိုစစ်ပစ္စည်းများ/ ပေါ်လီစတိုင်ရင်း |
မာကြောမှုတိုင်းတာခြင်း |
Qualitest Type-BS 61 II/ASTM-D 2240 |
|
အထပ်သား/ပလတ်စတစ်ပိုက်နှင့်ပလတ်စတစ်ပုလင်းများ |
မာကြောမှုတိုင်းတာခြင်း |
WALLACE Hardness Meter/DIN-53506 |
|
ကွန်ပိုစစ်ပစ္စည်းများ/အထပ်သား/ပလတ်စတစ်ပိုက်နှင့်ကော်စေ့များ |
သိပ်သည်းဆအားတိုင်းတာခြင်း |
Electronic Densimeter EW-300Sg/ASTM D-792 |
|
ကွန်ပိုစစ်ပစ္စည်းများ/အထပ်သားနှင့်ပလတ်စတစ်ပိုက်များ |
ရိုက်ချိုးမှုဒဏ်ခံနိုင်အားတိုင်းတာခြင်း |
Qualitest Q Impact-50/ ASTM D-256 |
|
ပလတ်စတစ်နှင့်ဆက်စပ်ပစ္စည်းများ/ဇီဝလောင်စာများနှင့်ဖော်မလင် |
ပြာပါဝင်မှုအားတိုင်းတာခြင်း |
Carbonite Muffle Furnace |
|
ဆေးပျစ်ရည် |
အခဲပါဝင်မှုအားတိုင်းတာခြင်း |
ASTM D-6980 |
|
ကွန်ပိုစစ်ပစ္စည်းများ/အထပ် သား/ပလတ်စတစ်ပိုက်နှင့်ကော်စေ့များ |
ရေစုပ်ယူနိုင်မှုအားတိုင်းတာခြင်း |
ASTM D-570 |
|
ကွန်ပိုစစ်ပစ္စည်းများ/အထပ်သား |
စိုထိုင်းဆအားတိုင်းတာခြင်း |
ASTM D-6980 |
|
ပလတ်စတစ်နှင့်ဆက်စပ် ပစ္စည်းများ |
ပျော့ပြောင်းမှုအားတိုင်းတာခြင်း |
ISO-3146 |
|
ကွန်ပိုစစ်ပစ္စည်းများ/အထပ် သားနှင့်ပလတ်စတစ်ပိုက်များ |
ကွေးညွတ်ဒဏ်ခံနိုင်မှုအားတိုင်းတာခြင်း |
Thwing Albert 34-5 Electro Hydraulic Tensile Tester/ ASTM D-412 |
|
ဇီဝလောင်စာများ |
ဆဲလူးလိုစ်၊ဟေမီဆဲလူးလိုစ်နှင့် လစ်ဂနင်ပါဝင်မှုအားတိုင်းတာခြင်း |
In – House method |
|
သုတေသနနှင့်တီထွင်ဆန်းသစ်မှုဦးစီးဌာနအောက်ရှိ အမျိုးသားဓာတ်ခွဲခန်းမှ ဓာတ်ခွဲဝန်ဆောင်မှု လုပ်ငန်းများ ဆောင်ရွက်ပေးလျက်ရှိရာ ပုဂ္ဂလိကကုမ္ပဏီများ၊ တက္ကသိုလ်/ကောလိပ်များနှင့် သုတေသန ဌာနများမှပေးပို့သည့် နမူနာများ၊ စက်မှုလုပ်ငန်းများ၏ သွင်းကုန်ထုတ်ကုန်ပစ္စည်းများ၊ သတ္တုရိုင်း နမူနာ များ၊ ဓာတုပစ္စည်းများ၊ အစားအသောက်နှင့်အလှကုန်များစသည့် နမူနာပစ္စည်းအမျိုးမျိုးကို တိုင်းတာလိုသည့် အမျိုးအစားအလိုက် စက်ပစ္စည်းနှင့်နည်းစဉ်အမျိုးမျိုးတို့ဖြင့် ဓာတ်ခွဲခန်းအသီးသီးမှ တာဝန်ယူ ဝန်ဆောင်မှုပေးလျက်ရှိပါသည်။ ဓာတ်ခွဲစမ်းသပ်တိုင်းတာခြင်းကို ပုဂ္ဂလိကကဏ္ဍ၊ တက္ကသိုလ်များ၊ ဌာနတွင်းသုတေသနလုပ်ငန်းများဟူ၍ ကဏ္ဍ(၃)ခုခွဲ၍ ဆောင်ရွက်ပေးလျက်ရှိပါသည်။ ထို့အပြင် စက်မှု ဝန်ကြီးဌာန သွင်းကုန်လိုင်စင်အတွက် ပြင်ပကုမ္ပဏီများမှ ဓာတုပစ္စည်းများအား အရည်အသွေး ဓာတ်ခွဲ စမ်းသပ်တိုင်းတာဆောင်ရွက်ရန် အမျိုးသားဓာတ်ခွဲခန်း (NAL) အား ရည်ညွှန်းဓာတ်ခွဲခန်း(Reference Lab) အဖြစ် သတ်မှတ်ထားပြီး လိုအပ်သော တိုင်းတာစမ်းသပ်မှုများ ဆောင်ရွက်ပေးလျက်ရှိပါသည်။
၁။ဓာတုပစ္စည်းနှင့်ဆက်စပ်ပစ္စည်းများ ဘေးအန္တရာယ်တားဆီးရေးဆိုင်ရာ ဓာတ်ခွဲ တိုင်းတာခြင်း
မြန်မာနိုင်ငံအမျိုးသားအဆင့် ဓာတုပစ္စည်းနှင့်ဆက်စပ်ပစ္စည်းများအန္တရာယ်မှ တားဆီးကာကွယ်ရေး ဗဟိုဦးစီးအဖွဲ့မှဆောင်ရွက်လျက်ရှိသော နိုင်ငံခြား သွင်းကုန်/ပို့ကုန် ဓာတုပစ္စည်းများနှင့် ဆက်စပ်ပစ္စည်းများကို အမျိုးအစားမှန်ကန်မှုရှိ/မရှိ စစ်ဆေးပေးခြင်း၊ အရည်အသွေးပြည့်မီမှုရှိ/မရှိ စစ်ဆေးပေးခြင်း၊ ဆေးဝါး၊ လူသုံးကုန်ပစ္စည်း၊ စက်မှုလုပ်ငန်းသုံး၊ စားသောက်ကုန်ပစ္စည်း ထုတ်လုပ်ရေးလုပ်ငန်းသုံး၊ သတ္တုတူးဖေါ်ရေးလုပ်ငန်းသုံး၊ ရေသန့်စင်ရေးလုပ်ငန်းသုံး ဓာတုပစ္စည်းနှင့် ဆက်စပ်ပစ္စည်းများ တိုင်းတာခြင်း တို့ကို Reference Lab အဖြစ် ဆောင်ရွက်လျက်ရှိပါသည်။
စမ်းသပ်တိုင်းတာခြင်: |
တိုင်းတာနိုင်သော parameter များ |
တိုင်းတာမည့်စက်များ |
ဈေးနှုန်း(ကျပ်) |
ဒြပ်ပေါင်းအမျိုးအစားများ ခွဲခြားသတ်မှတ် ခြင်း |
…oxides,…carbonate,…hydroxide,… phosphate,…sulfide,…nitride, chloride,…carbide,…silicate,…suicide,…hydrate,…nitride,…fluoride . etc |
XRD |
|
ပါဝင်သောဒြပ်စင် အမျိုး အစားသတ်မှတ်ခြင်း ပါဝင်မှုရာခိုင်နှုန်း တိုင်းတာခြင်း |
Li, B, N, F, Ne, Na, Mg, AL, Si, P, S, Cl, Ar, K, Ca, Sc, Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Ga, Ge, As, Se, Br, Kr, Rb, Sr, Y, Zr, Nb, Mo, Tc, Ru, Rh, Pd, Ag, Cd ,In, Sn, Sb,Te, I, Xe, Cs, Ba, La, Hf, Ta, W, Re, Os, Ir, Pt, Au, Hg, Tl, Pb, Bi, Po, At, Rn, Fr, c, Ce, Pr, Nd, Pm, Sm, Eu, Gd, Tb, Dv, Ho, Er, Tm, Yb, Lu, Th, Pa, U (Sub ppm to 100% ) |
XRF AAS ICP-OES ICP-MS |
|
ဓာတုဒြပ်ပေါင်းများ အား အမျိုးအစား ခွဲခြားခြင်း အမျိုးအမည်သတ်မှတ် ပေးခြင်း |
Various types of organic compounds |
FTIR-NIR UV-Vis-NIR |
|
ရေငွေ့ပါဝင်နှုန်း တိုင်းတာခြင်း |
Moisture (%) |
Moisture Analyzer Moisture Balance |
|
၂။ သဘာဝသယံဇာတပစ္စည်းများ၊ဒြပ်ပစ္စည်းနှင့်သတ္တုဗေဒဆိုင်ရာပစ္စည်းများတိုင်းတာခြင်း
သတ္တုရိုင်း၊ ကျောက်အမျိုးမျိုး၊ မြေအမျိုးမျိုး၊
စမ်းသပ်တိုင်းတာခြင်း |
တိုင်းတာနိုင်သော parameter များ |
တိုင်းတာမည့်စက်များ |
ဈေးနှုန်း(ကျပ်) |
ဒြပ်ပေါင်းအမျိုးအစား များခွဲခြားသတ်မှတ် ခြင်း |
Quartz (SiO2), Calcite (CaCO3), Albite (NaAlSi3O8), Kaolinite (Al2Si2O5(OH)4), Corumdum (Al2O3), Brownmillerite (CaFeAlO5), Gismondine (CaAl2Si2O8), Chalcocite (Cu2S), Stromeyerite (AgCuS), Beryl (Be3Al2Si6O18), Hematite(Fe2O3)-etc., |
XRD |
|
ပုံဆောင်ခဲအမျိုးအစား များရှာဖွေခြင်း |
Cubic, Tetragonal, Orthorhombic, Hexagonal,Trigonal, Triclinic, Monoclinic |
XRD |
|
၃။ ဒြပ်ပစ္စည်းနှင့်သတ္တုဗေဒဆိုင်ရာပစ္စည်းများတိုင်းတာခြင်း
သတ္ထုရိုင်း၊ သတ္ထုစပ်၊ ရေနံနှင့်ရေနံထွက်ပစ္စည်း၊ လောင်စာဆီအမျိုးမျိုး၊ ဇီဝလောင်စာ၊ ရုပ်ကြွင်း လောင်စာ၊ ချောဆီ၊ သုတ်ဆေး၊ အရောင်တင်ဆီ
စမ်းသပ်တိုင်းတာခြင်း |
တိုင်းတာနိုင်သော parameter များ |
တိုင်းတာမည့်စက်များ |
ဈေးနှုန်း (ကျပ်) |
လေထုတွင် အလိုအလျောက် လောင်ကျွမ်းနိုင်မှု အပူချိန်တိုင်းတာခြင်း |
Flash point |
Flash point tester |
|
သိပ်သည်းဆတိုင်းတာခြင်း |
Density |
Density meter |
|
ပါဝင်သော ဒြပ်စင်အမျိုးအစား သတ်မှတ်ခြင်း ပါဝင်မှု ppm level အထိ ရှာဖွေပေးခြင်း |
Carbon, Sulphur Oxygen, Nitrogen, Hydrogen |
C/S Analyzer O / N/ H Analyzer |
|
၄။ ပတ်ဝန်းကျင်ထိန်းသိမ်းကာကွယ်ရေးဆိုင်ရာပစ္စည်းများ တိုင်းတာခြင်း
စွန့်ပစ်ညစ်ညမ်းမြေအမျိုးမျိုး၊ စွန့်ပစ်ပစ္စည်းများ၊ လေထုညစ်ညမ်းမှုဆိုင်ရာပစ္စည်းများ၊ ဇီဝနမူနာ များ၊ သတ္တဝါများ၏အစိတ်အပိုင်း၊ သွေးဆဲလ်၊ အပင်ဆဲလ်၊ စိုက်ပျိုးမြေအမျိုးမျိုး
စမ်းသပ်တိုင်းတာခြင်း |
တိုင်းတာနိုင်သော parameter များ |
တိုင်းတာမည့်စက်များ |
ဈေးနှုန်း(ကျပ်) |
ကျန်းမာရေးထိခိုက်သော အန္တရာယ်ဖြစ်စေသည့် ဓာတုဒြပ်စင်များ ပါဝင်မှု ရှိ/မရှိ တိုင်းတာခြင်း ပါဝင်မှုပမာဏတိုင်းတာခြင်း |
Li, B, N, F, Ne, Na, Mg, AL, Si, P, S, Cl, Ar, K, Ca, Sc, Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Ga, Ge, As, Se, Br, Kr, Rb, Sr, Y, Zr, Nb, Mo, Tc, Ru, Rh, Pd, Ag, Cd ,In, Sn, Sb,Te, I, Xe, Cs, Ba, La, Hf, Ta, W, Re, Os, Ir, Pt, Au, Hg, Tl, Pb, Bi, Po, At, Rn, Fr, c,Ce, Pr, Nd, Pm, Sm, Eu, Gd, , Dv, Ho, Er, Tm, Yb, Lu, Th, Pa, U |
XRF AAS ICP-OES ICP-MS |
|
လေစုပ်ထားသောအလွှာပါး ပေါ်ရှိပါဝင်သော ဒြပ်စင်များ၏ပမာဏများ တိုင်းတာခြင်း |
N, F, Ne, Na, Mg, AL, Si, P, S, Cl, Ar, K, Ca, Sc, Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Ga, Ge, As, Se, Br, Kr, Rb, Sr, Y, Zr, Nb, Mo, Tc, Ru, Rh, Pd, Ag, Cd ,In, Sn, Sb,Te, I, Xe, Cs, Ba, La, Hf, Ta, W, Re, Os, Ir, Pt, Au, Hg, Tl, Pb, Bi, Po, At, Rn, Fr, c,Ce, Pr, Nd, Pm, Sm, Eu, Gd, Tb, Dv, Ho, Er, Tm, Yb, Lu, Th, Pa, U |
XRF SEM |
|
၅။ ပတ်ဝန်းကျင်ထိန်းသိမ်းကာကွယ်ရေးဆိုင်ရာပစ္စည်းများ တိုင်းတာခြင်း
၆။ သောက်သုံးရေ၊ စွန့်ပစ်ရေနှင့် ညစ်ညမ်းရေဓာတ်ခွဲတိုင်းတာခြင်း
သောက်သုံးရေ၊ စွန့်ပစ်ရေ၊ ညစ်ညမ်းရေ၊ ရေအမျိုးမျိုး၊ မြေအောက်တွင်းရေ၊ မြစ်ရေ၊ ချောင်းရေ၊ ကန်ရေ၊ ဆည်ရေနှင့် စွန့်ပစ်ရေများ
စမ်းသပ်တိုင်းတာခြင်း |
တိုင်းတာနိုင်သော Parameters များ |
တိုင်းတာမည့်စက်များ |
ဈေးနှုန်း(ကျပ်) |
အန္တရာယ်ဖြစ်စေသော ဘက်တီးရီးယားပိုးများ စစ်ဆေးခြင်း |
Water Borne Bacteria |
AFM, Biological Microscope |
|
ရေအမျိုးမျိုးတွင်ပါဝင် သောဒြပ်စင် များ၏ ပမာဏကိုတိုင်းတာ ပေးခြင်း |
As,Al,Ag,Au,B,Cd,Cr,Cu,Fe,Se,K, Na, Mg,Mn,Mo,Co, Ni,Pb,Li,Zn |
AAS, ICP-OES, ICP-MS |
|
ကြွင်းကျန်ရှိနေသောပိုးသတ်ဆေးဒြပ်ပေါင်းများ အမျိုးအစားခွဲခြားခြင်း အမျိုးအမည် သတ်မှတ်ပေးခြင်း ပါဝင်မှုပမာဏတိုင်းတာပေးခြင်း |
Carbamate Pesticides, α- BHC, β- BHC, γ- BHC, Aldrin, Diedrin, Endrin, Endosulfan, o,p’DDT, p,p’DDT,DDD, DDE,Heptachlor |
HPLC-UV HPLC-MS GC –MS GC-MS (headspace) |
|
အဆိပ်အတောက်ဖြစ်စေ သောအော်ဂဲနစ်ဒြပ်ပေါင်း များတိုင်းတာပေးခြင်း |
Benzene,Toluene, Xylene, MTBE Ethylbenzene, Chlorobenzene, Dichloroethane , Chloroform, Tetrachloroethane, Stryene |
GC – MS GC-MS ( headspace) |
|
ရေအမျိုးမျိုးတို့၏ဓာတ် ဂုဏ်သတ္တိတိုင်းတာခြင်း |
COD, pH, Phosphate, Nitrate, Conductivity, Total Dissolved Solids, Total Hardness, Dissolved Oxygen, Acidity (total acid), Chloride, Fluoride, |
UV-Vis-NIR Ion Chromatography COD Photometer Moisture Analyzer, pH Meter, DO Meter, Alcohol Meter, Phosphate Meter, Nitrate Meter |
|
၇။ စားသောက်ကုန်ပစ္စည်းများတိုင်းတာခြင်း
အစားအစာ၊ စားသောက်ကုန်ပစ္စည်းများနှင့် ၎င်းတို့၏ဆက်စပ်ပစ္စည်းများ၊ရောင်ချယ်နှင့် အဆီပါဝင်မှု နည်းပါးသော စားသီးနှံများနှင့်အသီးအရွက်များ၊ အပူလွန်ကဲ၍ကာဗွန်ဒြပ်ပေါင်းများ တင်ကျန်ရစ်သော အစားအစာများ
စမ်းသပ်တိုင်းတာခြင်း |
တိုင်းတာနိုင်သော parameter များ |
တိုင်းတာမည့်စက်များ |
ဈေးနှုန်း(ကျပ်) |
ဥပါဒ်ဖြစ်စေသော ဘက်တီးရီးယား များစစ်ဆေးခြင်း |
Food Borne Bacteria |
AFM, Biological Microscope |
|
၎င်းတို့တွင်ပါဝင်သော ဒြပ်စင်များ၏ ပမာဏကိုတိုင်းတာပေးခြင်း |
As,Al,Ag,Au,B,Cd,Cr,Cu,Fe,Se,K,Na,Mg,Mn,Mo,Co,Ni,Pb,Li, Zn |
AAS,ICP-OES, ICP-MS |
|
ရေငွေ့ပါဝင်နှုန်းတိုင်းတည်ခြင်း |
Moisture (%) |
Moisture Analyzer |
|
ကြွင်းကျန်ရှိနေသောပိုးသတ်ဆေး ဒြပ်ပေါင်း များအမျိုး အစားခွဲခြားခြင်း အမျိုးအမည်သတ်မှတ်ပေးခြင်း ပါဝင်မှုပမာဏ တိုင်းတာပေးခြင်း |
α- BHC, β- BHC, γ- BHC, Aldrin, Diedrin, Endrin, Endosulfan, o,p’DDT,p, p’DDT, DDD, DDE,Heptachlor |
GC- MS FTIR-NIR
|
|
ကင်ဆာဖြစ်စေနိုင်သောpolyaromatic hydrocarbon (PAH)ဒြပ်ပေါင်းများတိုင်းတာ ပေးခြင်း |
Chrysene, Perylene |
|
|
ကျန်းမာရေးထိခိုက်သော အန္တရာယ် ဖြစ်စေသောဓာတုဒြပ်ပေါင်းများ |
Caffeine, Non volatile organic compounds such as mycotoxins, additive, preservatives, vitamins, fatty acids, etc., |
HPLC-UV/MS FTIR-NIR UV-Vis-NIR |
|
၈။ ဆေးဝါးနှင့် အလှကုန်ပစ္စည်းများဓာတ်ခွဲတိုင်းတာခြင်း
ဆေးဝါး၊ အလှကုန်နှင့်ဆက်စပ်ပစ္စည်းများ၊ ဆေးဘက်ဝင်သဘာဝအပင်များနှင့် အသီးအနှံများ၏အဆီများ
စမ်းသပ်တိုင်းတာခြင်း |
တိုင်းတာနိုင်သော parameterများ |
တိုင်းတာမည့် စက်များ |
ဈေးနှုန်း(ကျပ်) |
ဥပါဒ်ဖြစ်စေသော ဘက်တီးရီးယား စစ်ဆေးခြင်း |
Allergic Bacteria |
AFM, Biological Microscope |
|
၎င်းတို့တွင် ပါဝင်သောဒြပ်စင်များကို တိုင်းတာပေးခြင်း |
As,Al,Ag,Au,B,Cd,Cr,Cu,Fe,Se,K, Na,Mg,Mn,Mo,Co,Ni,Pb,Li,Zn |
AAS, ICP-OES, ICP-MS |
|
အော်ဂဲနစ် ဒြပ်ပေါင်းများ ပါဝင်မှု ရှိ/မရှိ တိုင်းတာခြင်း |
Various types of organic compounds |
FTIR-NIR |
|
ဓာတုဒြပ်ပေါင်းများ၏ရုပ်ဂုဏ်သတ္တိ တိုင်းတာခြင်း၊ အခဲပျော်မှတ်ကြောင့် အပူချိန်ပြောင်းလဲမှု တိုင်းတာခြင်း |
Melting Points, Heats of Reaction, Glass Transition, and Heat Capacity. |
DSC STA |
|
အလှကုန်များအတွက် အမွှေးအနံ့ဆီ များ၊ အားဖြည့်ဒြပ်ပေါင်းများကို အမျိုးအစားသတ်မှတ်ပေးခြင်း ပါဝင်မှုပမာဏတိုင်းတာပေးခြင်း |
Fatty acid, Omiga - 3, EPA, DHA |
GC-MS |
|
၉။ စက်ရုံများ၊ အဆောက်အဦနှင့် လုပ်ငန်းသုံးပစ္စည်းများအား မူရင်းမပျက်တိုင်းတာစစ်ဆေးခြင်း
ဂဟေသားအဆက်များ၊ စက်ပစ္စည်းကိုယ်ထည်များ၊ မီးဖိုကိုယ်ထည်များ၊ ဖိအားမြင့် လှောင်အိုး များ၊ ရေနံနှင့်သဘာဝ ဓာတ်ငွေ့ပိုက်လိုင်းအဆက်များ၊ ယာဉ်၊ ရထား၊ သေင်္ဘာ၊ လေယာဉ်ပျံများ၏ အစိတ်အပိုင်းများ၊ လေယာဉ်ပျံတောင်ပံ၊ သေင်္ဘာကိုယ်ထည်နှင့်ပန်ကာများ၊ ကွန်ပိုစစ်၊ ကာဗွန်ဖိုင်ဘာ၊ ဂလပ်(စ်)ဖိုင်ဘာပစ္စည်းများ၊ ပိုက်လိုင်းများ၊ ပြွန်များ၊ ထုတ်ကုန်ပစ္စည်း အသစ်များ၊ အဆောက်အဦများ
စမ်းသပ်တိုင်းတာခြင်း |
တိုင်းတာနိုင်သော parameter များ |
တိုင်းတာမည့် စက်များ |
ဈေးနှုန်း(ကျပ်) |
အပြစ်အနာအဆာများအား သတ်မှတ်ချက် စံချိန်စံညွှန်းနှင့် တိုက်ဆိုင်စစ်ဆေးပြီး ဘေးအန္တရာယ် ကင်းရှင်း စွာ အသုံးပြု နိုင်ခြင်း ရှိ/မရှိ တိုင်းတာခြင်း |
-Cracks -Lack of Fusion -Porosities -Slack/Oxide/ Tungsten Inclusion -Lack of Penetration -Internal or Root Undercut -External or Crown Undercut -Offset or Missmatch -Excess Weld Reinforcement -Root Concavity -Shrinkage Groove -Laminations |
-SENTRY 300 (Co-60 Gamma Projector) (RT) -SENTRY 880 (Ir -192 Gamma Projector)(RT) -SMART 300 HP X ray Generator (RT) -CP 160B Portable X ray Generator (RT) -HDCR 35 IP Scanner (RT) -ISONIC PA AUT (UT) -Scorpion (UT Lite)(UT) -Lizard M8 (ET) -Riezler MSE 500 -IRIS DVR-5(Visual) -PARKER DA 1500 (MT) |
|
၁၀။စက်ရုံများ၊ အဆောက်အဦနှင့် လုပ်ငန်းသုံးပစ္စည်းများအား မူရင်းမပျက်တိုင်းတာစစ်ဆေးခြင်း
စမ်းသပ်တိုင်းတာခြင်း |
တိုင်းတာနိုင်သော parameter များ |
တိုင်းတာမည့် စက်များ |
ဈေးနှုန်း(ကျပ်) |
အပြစ်အနာအဆာများ ရှိ/မရှိကို တိုင်းတာစစ်ဆေးခြင်း |
-Surface and Sub Surface Defects |
-Defectoscope EV (ET) |
|
အပြစ်အနာအဆာများ ရှိ/မရှိကို တိုင်းတာ စစ်ဆေးခြင်း |
Surface deformations from the internal flaws • Delamination • Debonding • Separation of structural components • Undulation/waving/ wrinkling • Kissing bonding • Impact Damage ( BVID ) • Structural anomaly • Inter- laminar separations • Crushed Core, differentiates between disbonds • Internal corrosion • Changes in section and core splices / bulkheads |
DANTEC Q810 Laser Shearography System |
|
ပိုက်လိုင်း အတွင်း၊အပြင်ရှိ အပြစ် အနာ အဆာများကို တိုင်းတာ စစ်ဆေး ခြင်း |
Ect 48 Micro Dock (ET) |
|
|
ထုတ်ကုန်ပစ္စည်းအသစ်များ၏ အရည်အသွေး သုတေသနပြု လုပ် ခြင်း အဆောက်အဦ၊ အပူကာနံရံ များ၏ အပူပျံ့နှံ့မှု အခြေအနေနှင့် အရည် အသွေး စမ်းသပ်ခြင်း ဓါတ်ငွေ့ယိုစိမ့်မှု စစ်ဆေးခြင်း နံရံနှင့်အမိုး များ၏ ရေငွေ့ စိမ့်ဝင်မှု စမ်းသပ် စစ်ဆေးခြင်း |
-Temperature Variation (Range -20 °C to +650 °C) |
Fluke Ti200 Thermal Camera |
|
၁၁။ဆောက်လုပ်ရေးဆိုင်ရာပစ္စည်းများ တိုင်းတာခြင်း
ဘိလပ်မြေ၊ ထုံးကျောက်၊ သံချောင်း၊ စတီးပစ္စည်းများ၊ အလူမီနီယံ၊ သွပ်၊ ကွန်ကရိ၊ ကြွေထည် ြေမထည် ပစ္စည်:များ၊ သတ္တုနှင့်သတ္တုစပ်ပစ္စည်းများ၊ သံချောင်း၊ စတီးပစ္စည်းများ၊ အလူမီနီယံ၊သွပ်၊ သတ္တုနှင့် သတ္တုစပ်များ၊ ဝါယာ၊ ရာဘာ၊ ကွန်ပို့စစ်၊ ပေါ်လီမာနှင့်ပလပ်စတစ် ပစ္စည်းအမျိုးမျိုး၊ အဆာက်အဦသုံး မှန်နှင့် ပလပ်စတစ်ပစ္စည်းအမျိုးမျိုး
စမ်းသပ်တိုင်းတာခြင်း |
တိုင်းတာနိုင်သော parameter များ |
တိုင်းတာမည့် စက်များ |
ဈေးနှုန်း(ကျပ်) |
ပါဝင်သောဒြပ်ပေါင်း များခွဲခြားခြင်း |
Calcium oxide (lime)( Ca0), Silicon dioxide (silica)(SiO2), Aluminum oxide (alumina)(Al2O3), Iron oxide (Fe2O3), Sulfate(SO3), Tricalcium aluminate (Ca3Al2O6), Tetracalcium aluminoferrite (Ca4Al2Fe2O10), Belite or dicalcium silicate (Ca2SiO5 ), Alite or tricalcium silicate (Ca3SiO4), Sodium oxide (Na2O), Potassium oxide(K2O), Gypsum(CaSO4.2H2O) |
XRD |
|
ပါဝင်သော ဒြပ်စင်များ ခွဲခြားခြင်း |
C,O, H, N, F, Ne, Na, Mg, AL, Si, P, S, Cl, Ar, K, Ca, Sc, Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Ga, Ge, As, Se, Br, Kr, Rb, Sr, Y, Zr, Nb, Mo, Tc, Ru, Rh, Pd, Ag, Cd ,In, Sn, Sb,Te, I, Xe, Cs, Ba, La, Hf, Ta, W, Re, Os, Ir, Pt, Au, Hg, Tl, Pb, Bi, Po, At, Rn, Fr, Ce, Pr, Nd, Pm, Sm, Eu, Gd, Tb, Dv, Ho, Er, Tm, Yb, Lu, Th, Pa, U |
XRF Arc-Spark OES, C/S Analyzer O/N/H Analyzer |
|
၁၂။ ဆောက်လုပ်ရေးဆိုင်ရာပစ္စည်းများ တိုင်းတာခြင်း
စမ်းသပ်တိုင်းတာခြင်း |
တိုင်းတာနိုင်သော parameter များ |
တိုင်းတာမည့် စက်များ |
ဈေးနှုန်း(ကျပ်) |
သန့်စင်မှုရာခိုင်နှုန်းအား တွက်ချက် ခြင်း |
Sub ppm to 100% |
XRF, Arc-Spark OES, C/S Analyzer, O/N/H Analyzer |
|
ရုပ်ဂုဏ်သတ္တိတိုင်းတာခြင်း၊ အခဲ ပျော်မှတ်ကြောင့် အပူချိန်ပြောင်း လဲမှု တိုင်းတာခြင်း |
Melting Points, Heats of Reaction, Glass Transition, and Heat Capacity. |
DSC STA |
|
ဒြပ်ပေါင်းအမျိုးအစား သတ်မှတ် ခြင်းနှင့် UVအလင်းစုပ်ယူမှု တိုင်း တာခြင်း |
Type of Polymer, UV, Vis Absorbance (%) |
FTIR-NIR UV-Vis-NIR |
|
မျက်နှာပြင်အဏုစိတ် ပုံဖော်ခြင်း၊ ပါဝင်သောဒြပ်စင်များ ခွဲခြားခြင်း |
Surface morphology Topography Elemental Analysis |
SEM |
|
၁၃။ အီလက်ထရောနစ်ပစ္စည်းများ အရည်အသွေးတိုင်းတာခြင်း
တပိုင်းလျှပ်ကူးပစ္စည်း၊ ဖန်ထည်၊ ဆိုလာဆဲလ်၊ ဆီလီကွန်ဝေဖာ၊ ကွန်ပျူတာအစိတ်အပိုင်းများ၊ စီဒီ၊ အိုင်စီ၊ အီလက်ထရောနစ်အစိတ်အပိုင်းများ၊ တပိုင်းလျှပ်ကူးပစ္စည်းများ
Printed circuit boards -Electronic and mechanical-modules
Electromechanical-components and plugs-Semiconductor packaging and interconnects
Microsystems
Sensors-Actuators
စမ်းသပ်တိုင်းတာခြင်း |
တိုင်းတာနိုင်သော parameter များ |
တိုင်းတာမည့်စက်များ |
ဈေးနှုန်း(ကျပ်) |
မျက်နှာပြင်ကိုအဏုစိပ်ပုံဖော်ခြင်း၊ အလွှာပါးတင်ခြင်း၊ ဖြတ်တောက်ခြင်းနှင့်စက်ခုတ်စားမှု၊ ဒြပ်စင်များပါဝင်မှုတိုင်းတာခြင်း |
Surface morphology Topography Deposition and etching Milling Failure Analysis Elemental Analysis |
FE-SEM |
|
မျက်နှာပြင်ကြမ်းတမ်းမှု စစ်ဆေး ခြင်း နှင့် သုံးဖက်မြင်ပုံထုတ်ခြင်း အပြစ်အနာအဆာ ကြည့်ခြင်း သိုလောင်နိုင်မှုပမာဏကြည့်ရှုခြင်း |
Optical Scanning Line profile 3D imaging |
AFM |
|
အတွင်းပိုင်းကို မူရင်းမပျက်အလွှာ လိုက် ပုံစံများဖြင့် ကြည့်ရှုနိုင်ပြီး၊ အပြစ်အနာအဆာများကိုတိုင်းတာ စစ်ဆေးခြင်း။ |
Typical defects during bonding or chipped wires, excess wires, missing wires and ball bonds |
X ray CT (YXLON,Y.Cougar SMT) |
|
၁၄။ နာနိုနည်းပညာဆိုင်ရာ ဓာတ်ခွဲတိုင်းတာခြင်း
နာနိုအမှုန်အမျိုးမျိုး၊ နာနိုဒြပ်ပစ္စည်းများ၊ နာနို structure များ၊ နာနို thin film များ၊ နာနိုကျု့များ
coming soon...
အမှတ် (၆) ကမ္ဘာအေးဘုရားလမ်း
စာတိုက်အမှတ် ၁၁၀၈၁
ရန်ကင်းမြို့နယ်
ရန်ကုန်